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材料物理性能测试系统 -指标信息

信息来源:   发布时间: 2016/9/14   浏览次数:

材料物理性能测试系统 -指标信息

规格:7英寸电磁铁VSM系统;124×89×89cm3隔音柜的纳米物理性能测量装置技术指标: 1.磁性测量:最大磁场强度:2T;磁性测量灵敏度:5×10-6emu 2.材料表面物理力学性能: XP型主机:位移分辨率<0.01nm,最大压痕深度>500um 最大载荷500mN,荷载分辨率50nN,最大压痕深度>15um 专门用于薄膜测量的DCM选件:位移分辨率(公司标称)<0.0002nm,最大荷载:10mN,分辨率1RN
·可对包括有机高分子材料在内的固体和薄膜材料进行连续动态载荷下纳米硬度,弹性模量等的测试;纳米划痕、摩擦系数以及界面结合力的研究。
·对超薄薄膜(100nm~500nm)材料硬度、弹性模量、载荷与位移深度关系进行研究。
·原子力显微镜(AFM)形貌观察与分析。
·固体、粉末、薄膜和单晶样品的磁滞回线,初始磁化曲线等的测量,磁矩和磁场温度、时间、角度等变量关系的研究。
·高温与低温区间的磁性能测量,高温从室温可到1000℃,低温从液氦温区(10k以上)到液氮温区(85~300k)。
·试样转角从0~360°,可测量样品的三维磁性质。